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PCT飽和加速壽命老化試驗箱

PCT飽和加速壽命老化試驗箱，PCT加速老化試驗箱，半導體測試PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

產(chǎn)品型號：PCT-35
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-12-03
訪問量：991

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聯(lián)系電話：0769-22851840

產(chǎn)品詳情

品牌	艾思荔	產(chǎn)地	國產(chǎn)
型號	PCT-35	內(nèi)部尺寸	350-450
外箱尺寸	900-1260-930	飽和蒸汽溫度范圍	100-135度
飽和蒸汽濕度	100%	壓力范圍	3KG
循環(huán)方式	水蒸氣自然對流循環(huán)	安全保護裝置	缺水，超壓保護
配件	不銹鋼隔板兩層	設備容積	43
電源	220V

　　PCT飽和加速壽命老化試驗箱(又名PCT高壓加速老化試驗機)

　　主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，

　　濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

-產(chǎn)品簡介

　　1.試驗箱采用優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細。

　　2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。

　　3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，和通訊功能)。

　　-產(chǎn)品應用

　　廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

　　-規(guī)范要求

　　PCT飽和加速壽命老化試驗箱內(nèi)膽采用圓弧設計,復合國家安全容器標準,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產(chǎn)品架。

　　-安全保護裝置

　　A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗箱鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動.

　　B、超壓安全保護：當鍋內(nèi)壓力超過最大工作值自動排氣泄壓.

　　C、超溫保護：當鍋內(nèi)溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.

　　D、防燙傷保護：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.

　　E、手動安全保護排壓伐.

　　-半導體測試

　　PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，

　　濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

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